ISO/TC 213 : Spécification géométrique des produits

L'ISO/TC 213 a tenu sa 25ème réunion en septembre 2008, à l'Université de Saragosse pour valider les décisions des groupes de travail qui se sont réunis en parallèle.

Les positions françaises déterminées lors des réunions de préparation des commissions UNM 08 (GPS-Spécification) et UNM 09 (GPS-Mesure) ont été défendues par les cinq experts français qui ont pris part aux réunions.

Les WG 2 (Références) et WG 14 (principes GPS verticaux), groupes animés par le CETIM et dont le secrétariat est assuré par l’UNM, ont pu traiter les commentaires résultant des enquêtes sur la révision de l’ISO 5459 "Références spécifiées et systèmes de références spécifiées" et du nouveau projet établissant les principes fondamentaux de lecture des normes.

De son côté, le WG 6 continue son programme de révision des normes d’instruments de mesure (micromètres, pieds à coulisse, jauges de profondeur) et initie de nouveaux travaux sur les caractéristiques de conception et les caractéristiques métrologiques des mesureurs verticaux et des comparateurs électroniques à affichage numérique.

Le WG 10 (Machines à Mesurer Tridimensionnelles - MMT) a travaillé sur la mise au point d’un Guide pour l’évaluation des incertitudes des MMT. Le WG 16 (Etats de surface) a finalisé cinq projets sur les instruments de mesure avec ou sans contact et sur les états de surface de profil et surfaciques, les prochaines étapes de ces projets étant purement formelles.

Enfin, le WG 9, dont les travaux sont suivis en France par le BNIF, bureau de normalisation de la fonderie, a avancé sur les règles applicables aux tolérances dimensionnelles des pièces moulées.

Parallèlement, la Task force ayant pour mission de réfléchir à la classification des caractéristiques, a décidé de considérer l’aspect management du risque. Ces travaux seront présentés en session ouverte avant la prochaine réunion du Comité technique. La France avait mandaté un expert pour suivre ces travaux.

Les liaisons avec les comités ISO/TC 172 "Optique et photonique" et ISO/TC 229 "Nanotechnologies" ont été confirmées. L’ISO/TC 4 avait mandaté deux experts pour prendre part aux travaux du WG 18 (tolérancement) afin d’étudier la mise en place du système de spécification géométrique des produits (GPS) dans les normes de roulements.

La prochaine session de l'ISO/TC 213 se tiendra à Berlin du 2 au 11 février 2009.

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